MIS 封装 器 件 焊 接 质 量 控 制 技 术 针对树脂塞孔表贴焊盘在焊接过程中出现的虚焊和溢锡缺陷,文中以某项目中选用的 MIS 封装细密间距引脚器件为研究对象,通过剖析影响该类型器件表面组装质量的关键要素,从印制电路板中内圈盘中孔的非阻焊限定设计 ( NSMD) 、树脂塞孔加工工艺控制、丝印锡膏量改善对 封装 塞孔 mis 焊盘 mis封装 2025-10-11 10:30 2